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长期高价回收Tektronix/泰克 DSA8200 DSA8300示波器

更新时间:2023-06-07 信息编号:1791289
长期高价回收Tektronix/泰克 DSA8200 DSA8300示波器
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DSA8200.jpg

Tektronix DSA8200 采样示波器


型  号:DSA8200

名  称:采样示波器

品  牌:泰克(Tektronix)

分  类:通用电子测试 > 示波器 > 数字示波器

产品属性:主机

简  述:

为较具挑战的系统设计提供信号高保真度。当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于较高的TDR带宽、较快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试,DSA8200数字串行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。


商品介绍

在线问答

为较具挑战的系统设计提供信号高保真度 

当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于较高的TDR带宽、较快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试,DSA8200数字串行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。 


DSA8200采样示波器概述

功能

最多4个真实差分通道

高带宽(50 GHz)时域反射仪

光学模块噪声低,光学灵敏度高,拥有消光比校准功能及宽波长。

IConnect? 信号完整性

串行数据网络分析 (SDNA)

串行数据链路分析 (SDLA)

远程采样头

优点

商品介绍

在线问答

为较具挑战的系统设计提供信号高保真度 

当前高速电路使得信号路径检定和BER分析的挑战性进一步提高。由于较高的TDR带宽、较快速的S参数测量功能及全面支持光学标准测试,DSA8200数字串行分析仪提供了完整的高速物理层测试平台。 


优点

利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备,如放大器。

以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。

通过一个光学测试解决方案,满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准。

利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。

通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动,确保可靠的系统运行。

通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置最大化接收器的眼睁时间。

通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和最小化探头、电缆及测试治具的影响。

科信回收3948.jpg

长期现金高价回收Agilent/安捷伦 HP/惠普综合测试仪

8920A 8921A 8920B 8924C


长期现金高价回收Agilent/安捷伦 测试夹具

16047E 16192A 16197A 16092A 16047C 16047A 16047D 16193A 16194A

42942A 42941A  16048C 16034E


长期现金高价回收Keysight/是德科技 Agilent/安捷伦 校准件:

85032F,85033E,85052D,85092C,85093C,N4691B

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