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Agilent/安捷伦HP/惠普4155A半导体参数分析仪

更新时间:2023-06-25 信息编号:1783494
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HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室,HP4145B是电子工业中 个可以独立对半


导体器件和材料进行直流参数的仪器。HP4145B通过对器件加电压,测电流,HP4145B或加电流测电压并将


测试结果显示在内置的CRT显示器上,结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。


主要特点及优点:


  在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告,有利于保持高速生产效率


  可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作


  内置的“源存储器”可编程序列发生器 多可存储100个不同的测试,以满足高速生产的需要


  高达75000小时MTBF的可靠性设计,为不中断生产环境提供了良好的可靠性


  内置的比较器简化了pass/fail测试




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品种齐全,货源充足,存库雄厚,服务快捷,维修能力强。

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